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AFM은 탐침과 시료표면사이에 작용하는 원자사이힘을 검출하는 원리에 기초하고있다. 원자들사이의 거리가 nm급으로 가까워지면 그것들사이에 호상작용힘이 나타난다. 이 힘은 원자들사이의 거리에 대단히 민감하므로 탐침을 시료표면우에서 주사할 때 탐침에 작용하는 힘은 표면에서 원자들의 배치상태에 따라 민감하게 변하게 된다. 이 힘을 검출하면 시료표면상태를 nm급의 분해능으로 관측할수 있다.
원자힘현미경은 전도성재료는 물론 비금속재료나 생물시료들의 표면상태도 관측할수 있는 우점을 가지고있다.
원자힘현미경개발에는 nN급의 극미세힘검측기술, nm급 정밀이송 및 주사기술, 미소신호수감 및 처리기술, 방진기술, 콤퓨터결합조종기술과 화상처리기술과 같은 첨단과학기술이 종합적으로 응용된다.
연구집단은 표준시편과 여러가지 실용시편들에 대한 관측과 다른 분석수단들과의 대비분석을 통하여 장치동작의 과학성과 실용성을 확인하였다.
주체102(2013)년 4월 18일 국가과학기술성과로 등록되였으며 8월에 진행된 제10차 전국나노기술전시회와 10월에 진행된 전국대학과학기술성과전시회에서 1등상을 수여받았다.
개발한 현미경은 나노재료를 전공하는 학생들의 전공실험과 각종 재료들의 표면나노구조관측에 리용되고있다.
